صفحه اصلی
میکروسکوپ نیروی اتمی آموزشی
Atomic Force Microscopy (EDU)
- 4.1(432)
- ۰ دیدگاه کاربران
توضیحات
از این محصول برای اندازه‌گیری مورفولوژی سطحی استفاده می‌شود. میکروسکوپ AFM سطح نمونه را توسط یک سوزن تیز به طول 2 میکرون و قطر کم‌تر از 10 نانومتر آنالیز می‌کند. نیروهای بین سوزن و سطح نمونه باعث انحراف کانتیلور می‌شود و یک آشکارساز میزان انحراف کانتیلور را اندازه می‌گیرد. اندازه‌گیری انحرافات کانتیلور به کامپیوتر امکان تولید تصویر توپوگرافی سطح را می‌دهد. در این میکروسکوپ، تصویربرداری می‌تواند به روش تماسی (تماس نوک پروب به نمونه)، غیرتماسی و شبه تماسی انجام شود.
درباره فروشنده
شرکت نانو سیستم پارس در حوزه تصویربرداری و ساخت سیستم های تصویربرداری از سال 87 در قالب یک آزمایشگاه در زمینه نانوفناوری شروع به کار کرده است. اولین پروژه این...
بیشتر بخوانیدنقد و بررسی اجمالی
Atomic Force Microscopy (EDU)
از این محصول برای اندازه‌گیری مورفولوژی سطحی استفاده می‌شود. میکروسکوپ AFM سطح نمونه را توسط یک سوزن تیز به طول 2 میکرون و قطر کم‌تر از 10 نانومتر آنالیز می‌کند. نیروهای بین سوزن و سطح نمونه باعث انحراف کانتیلور می‌شود و یک آشکارساز میزان انحراف کانتیلور را اندازه می‌گیرد. اندازه‌گیری انحرافات کانتیلور به کامپیوتر امکان تولید تصویر توپوگرافی سطح را می‌دهد. در این میکروسکوپ، تصویربرداری می‌تواند به روش تماسی (تماس نوک پروب به نمونه)، غیرتماسی و شبه تماسی انجام شود.
مشخصات کالا
Atomic Force Microscopy (EDU)
امتیاز و دیدگاه کاربران
Atomic Force Microscopy (EDU)
ثبت نظر
Atomic Force Microscopy (EDU)
